Les TRNGs (True Random Number Generators) sont les blocs essentiels de tout système cryptographique. Les normes actuelles, telles que l'AIS-31, nécessitent un modèle stochastique, qui relie directement le modèle de la source physique du hasard à l'entropie des bits aléatoires générés. Les TRNG sont évalués en fonction de leur débit, de leur efficacité et de leur robustesse. A ce titre, le FD-SOI (Fully Depleted Silicon on Insulator) est une technologie bien connue pour ses avantages en termes de consommation, mais aussi pour l'adaptabilité de ses caractéristiques ajustées par la deuxième grille appelée BOX (Buried Oxide).
Le sujet de thèse vise à étendre l'utilisation de la grille arrière en étudiant les opportunités offertes par une gestion intégrée de celle-ci. En appliquant une tension sur la BOX, on peut ajuster les caractéristiques au niveau du transistor. Cette technique, appelée « back-biasing », permet d'affiner les caractéristiques des dispositifs et n'a jusqu'à présent pas été utilisée dans la conception de primitives de sécurité. Cette technique sera implémentée pour un TRNG spécifique FD-SOI basé sur un principe d’échantillonnage cohérent.