La sécurité des systèmes numériques repose sur l’établissement de chaînes de confiance cryptographiques allant du matériel jusqu’aux applications finales. Les circuits intégrés sont à la base des chaines de confiances et stockent pour cela des secrets qui, via différentes contremesures, sont supposés non modifiables et non observables.
L’une des menaces connues dans la littérature est l’utilisation de Microscopes Électronique à Balayage (MEB) pour l’extraction de signaux sensibles. En effet, le MEB, via le phénomène de contrastes de potentiel permet de déterminer « visuellement » la valeur d’un ou plusieurs signaux présents dans une zone du circuit, cette zone pouvant être un niveau de métal ou un transistor. Cette utilisation du MEB sur la face avant des circuits est connue et mise en œuvre depuis les années 90 dans le domaine d’analyse de défaillance. Cependant cette technique est devenue inapplicable avec les progrès des technologies, notamment la finesse de gravure et l’augmentation du nombre de couche de métaux. Des travaux récents (2023) ont montré que le sondage avec MEB était possible via la face arrière du circuit, en observant les transistors via le substrat de silicium. Ces travaux ont été effectués sur des technologies assez anciennes (135 µm). Il est aujourd’hui essentiel de déterminer si ces menaces sont avérées sur les technologies récentes (Bulk, FD-SOI, FinFET), car les futures chaînes de confiance pourraient être compromise.
Un premier défi de la thèse est de fiabiliser le processus de préparation d’échantillon permettant l’accès aux parties actives des transistors via la face arrière tout en gardant le système fonctionnel. Un second défi sera de caractériser les phénomènes de contraste de potentiels et d’observations via l’instrumentation de MEB en vue d’extraire des secrets. Une fois la technique maitrisée nous chercherons à comparer l’effet de la technologie sur cette famille d’attaque et en particulier déterminer les potentiels avantages intrinsèques de la technologie FD-SOI en vue de s’en prémunir.